اسپکتروفتومتری در بازه ی طیفی 200 الی 1100 نانومتر مورد استفاده قرار می گیرد.
از آنجا که مواد پیرامون ما با امواج الکترومغناطیس برهمکنش دارند . لذا از تحلیل برهمکنشها می توان به ساختار مواد پی برد .
در این تکنیک از منبع نور مصنوعی (دوتریوم _تنگستن) به عنوان چشمه موج الکترومغناطیس استفاده می شود.موج الکترومغناطیس از نمونه ی تحت ازمایش عبور (بازتاب) کرده و طیف عبوری توسط طیف سنج ثبت و تحلیل می شود.
